扫描探针显微镜走査型プローブ顕微鏡SCANNING PROBE MICROSCOPE
商品详细描述
| 编号 | 型号 | 日本市场参考价格（JPY） | 库存 | 报价 | 备考 |
| CC-1117-01 | SPM-9600 | 没有（联系我们） | 大型商品 |
特点
- 扫描探针显微镜（SPM）是利用细微的探针，在样品表面扫描，进行高放大倍率观察三维形貌的显微镜。
- 标准配置模式包括接触，动态和位相三种模式。
- 扩展模式包括：力调制、侧向力，磁力（MFM）、电流、表面电势（KFM）等检测模式，并能和纳米压痕仪与Q调制系统联用，可以轻松地升级到可控气氛模式。
- 软件的自动化功能帮助用户都能轻松操作。
规格
- 测定模式：标准／接触、动态、相位
- 分辨率：水平0.2nm、垂直0.01nm
- 最大扫描范围（X/Y/Z）：标准／30×30×5μm
- 最大样品形状：24×8mm
- 样品装载方式：头部滑动机构
- 分束器滑动机构：内置在AFM头内
CC-1117-01
关于价格、详细规格，敬请咨询。
大型商品需要另外运费。
目录刊载页:易购安综合目录2011-2012（红） 化学 | 制药 | 食品 | 研究所B-189页
目录刊载页:易购安综合目录2011-2012（绿） 机电 | 电子 | 机械 | 制造B-189页
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| 商品属性 | ||||||||||||
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| [型号] | CC-1117-01 | |||||||||||
| [详细规格] |
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采购指南
